螺母緊固件是被廣泛使用的緊固件之一，它具有較強(qiáng)的通用性，互換性。然而，由于螺紋緊固件品種繁多，使用環(huán)境及產(chǎn)品要求相差甚遠(yuǎn)，所受載荷復(fù)雜，導(dǎo)致緊固件失效。所以實(shí)際選擇過(guò)程中應(yīng)當(dāng)慎重。

收到某樣品為螺母緊固件，螺母擰上去之后卡死，樣品照片見(jiàn)圖1所示。同時(shí)客戶分別將國(guó)產(chǎn)螺母、進(jìn)口螺母以及失效螺母委托我司對(duì)該樣品進(jìn)行對(duì)比分析。該材料牌號(hào)為45#鋼。

圖一

微診斷™微譜失效分析平臺(tái)技術(shù)專(zhuān)家將失效螺母和螺栓縱截面剖開(kāi)，表面拋光，肉眼可見(jiàn)螺栓與螺母已卡死，見(jiàn)圖2所示。

采用體式顯微鏡對(duì)樣品截面位置進(jìn)行放大觀察，檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)圖3~圖6所示。

由圖3~圖6可知：螺栓和螺母絲牙表面均出現(xiàn)劃傷，絲牙外形不完整，破壞較嚴(yán)重。部分金屬劃傷掉落，卡在螺栓絲牙部（如圖5黃色虛線框所圈）。其中圖7~圖8為國(guó)產(chǎn)螺母、進(jìn)口螺母間距測(cè)試示意圖。 

隨后，技術(shù)專(zhuān)家分別對(duì)失效螺母、國(guó)產(chǎn)螺母、進(jìn)口螺母取樣，并對(duì)樣品進(jìn)行螺紋間距檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表1所示。

依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 4340.1-2009《金屬維氏硬度試驗(yàn)第 1 部分：試驗(yàn)方法》，分別對(duì)失效螺母、國(guó)產(chǎn)新螺母、進(jìn)口螺母取樣，并對(duì)樣品絲牙表面進(jìn)行維氏硬度測(cè)試，檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表2所示。

采用掃描電鏡對(duì)生銹卡死螺栓和螺母絲牙表面進(jìn)行形貌觀察和EDS成分分析，檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)圖9～圖12所示。

SEM檢測(cè)結(jié)果表明：生銹卡死螺母絲牙表面均可見(jiàn)梨溝狀擦傷痕跡和微裂紋、氧化生銹痕跡及顯微孔洞。微裂紋主要由于絲牙表面金屬刮傷、擠壓形成。

技術(shù)專(zhuān)家們采用直讀光譜儀，按照檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)GB/T4336-2016（含標(biāo)準(zhǔn)第一號(hào)修改單）分別對(duì)失效螺母、國(guó)產(chǎn)新螺母、進(jìn)口螺母三者進(jìn)行化學(xué)成分分析，檢測(cè)結(jié)果見(jiàn)表3所示。

宏觀觀察結(jié)果發(fā)現(xiàn)失效螺栓和螺母絲牙表面均出現(xiàn)劃傷，絲牙外形不完整，破壞較嚴(yán)重。部分金屬劃傷掉落，卡在螺栓絲牙部。經(jīng)過(guò)SEM觀察發(fā)現(xiàn)，失效螺母絲牙表面可見(jiàn)梨溝狀擦傷痕跡、微裂紋及顯微孔洞。

微譜已積累多年的失效分析技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，并通過(guò)微觀成分分析、材料表征、性能測(cè)試、缺陷定位、可靠性驗(yàn)證等手段，建立了為材料、電子元器件及模組、PCB/PCBA、系統(tǒng)及總成等領(lǐng)域提供綜合解決方案的微診斷™微譜失效分析平臺(tái)。同時(shí)建立了完善的譜圖數(shù)據(jù)庫(kù)，可為產(chǎn)品在研發(fā)生產(chǎn)、儲(chǔ)存運(yùn)輸、終端使用過(guò)程中發(fā)生的失效提供專(zhuān)業(yè)性解決方案，如有相關(guān)需求，歡迎詳詢(xún)！